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當前位置:首頁技術文章X射線熒光光譜儀教程

X射線熒光光譜儀教程

更新時間:2025-02-10點擊次數:930

        化學成分分析的方法主要有化學分析,物理分析。其中物理分析越來越受到研究者的關注,其具有幾個特點:

         1.不破壞樣品成分,

         2.絕大部分的物理分析的區域很小

         3.儀表面分析方法為主

         4.分析速度快,靈敏度高。常見的物理分析方法包括X射線熒光光譜(XRF)等離子發射光譜(ICP)原子吸收光譜(AAS)原子熒光光譜法(AFS)和電子探針分析(EPMA)

        XRF分析測試技術已經在地質,冶金,電子機械,石油,航空航天材料,生物,生態環境等領域廣泛應用。

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